从热力学的观点来看，非晶态结构倾向于结晶。可以认为，在电阻器工作期间，这两个过程以近似恒定的速度进行。与之相关的电阻变化占原始电阻的千分之几。直流负载-电解：在直流负载下，电解导致电阻器老化。湿热环境下的直流负载试验可以综合评价电阻基体材料和薄膜的抗氧化性或抗还原性，以及保护层的防潮性能。

薄膜电阻的导电膜一般采用气相沉积的方法获得，并且在一定程度上存在非晶态结构。从热力学的观点来看，非晶态结构倾向于结晶。在工作或环境条件下，导电膜中的非晶结构趋向于以一定速度结晶，即导电材料的内部结构趋向于致密化，这通常会导致电阻值降低。结晶速率随温度的升高而增大，电阻丝或电阻膜在制备过程中会承受机械应力，导致其内部结构变形。金属丝直径越小或薄膜越薄，应力效应越显著。一般情况下，内应力可通过热处理消除，残余内应力可在长期使用过程中逐渐消除，电阻器的电阻值也会随之变化，结晶过程和内应力消除过程都会随着时间的推移而减慢，但在使用电阻器的过程中不可能终止。可以认为，在电阻器工作期间，这两个过程以近似恒定的速度进行。与之相关的电阻变化占原始电阻的千分之几

电气负载的高温老化：在任何情况下，电气负载都会加速电阻器的老化过程，电气负载对电阻器老化的加速作用比温度升高的作用更为显著，因为电阻器和引线帽之间接触部分的温升超过电阻器的平均温升。一般情况下，温度每升高10℃，使用寿命缩短一半。如果过载导致电阻器在额定负载下温升超过50℃，电阻器的使用寿命仅为正常情况下的1/32。电阻器在10年内的工作稳定性可通过不到4个月的加速寿命试验进行评估

直流负载-电解：在直流负载下，电解导致电阻器老化。电解发生在槽电阻槽中。电阻矩阵中包含的碱金属离子在槽之间的电场中发生位移，从而产生离子电流。在有水分的情况下，电解过程更为激烈。如果电阻膜是碳膜或金属膜，则主要是电解氧化；如果电阻膜是金属氧化物膜，则主要是电解还原。对于高电阻薄膜电阻器，由于电解，电阻值可能会增加，并且沿着螺旋槽的一侧可能会发生薄膜损坏。湿热环境下的直流负载试验可以综合评价电阻基体材料和薄膜的抗氧化性或抗还原性，以及保护层的防潮性能。

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