电子元件的主要失效模式包括开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能故障、电参数漂移、非稳定故障等。举个例子，一个半导体元件有完整的外观，但实际上需要花费大量时间调整硬件电路，有时甚至会爆炸。什么我 我今天要讲的是电容、电阻和电感。为防止电容器过压失效，电容器在过压下容易被击穿，但在实际应用中经常出现瞬时高压。选择耐暂态过电压性能好的电容器，找原厂制造，安全可靠。

电子元件的主要失效模式包括开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能故障、电参数漂移、非稳定故障等。对于硬件工程师来说，电子元器件的故障是很麻烦的。举个例子，一个半导体元件有完整的外观，但实际上需要花费大量时间调整硬件电路，有时甚至会爆炸。什么我 我今天要讲的是电容、电阻和电感。

电容器常见的故障模式是破坏性短路致命故障开路致命故障的电气参数变化(包括电容量差、损失角的正切值增加、绝缘性能下降或漏电流增加等)部分功能性故障漏电部分功能性故障引线腐蚀或断裂致命性故障绝缘子断裂致命性故障绝缘子表面起弧部分为功能性故障，电容器故障有多种原因。各种电容器的材料、结构、制造技术、性能和使用环境不同，失效机理也不同。

电容器损坏的主要失效机理①介质材料有缺陷或含有导电杂质或导电颗粒②介质的电老化和热老化③介质内部的电化学反应④银离子迁移⑤电容器制造过程中对介质的机械损伤⑥介质的分子结构变化⑦介质在高湿度或低气压环境下的极端电弧和机械应力下瞬间短路。

为防止电容器过压失效，电容器在过压下容易被击穿，但在实际应用中经常出现瞬时高压。选择耐暂态过电压性能好的电容器，找原厂制造，安全可靠。

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