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关于陶瓷电容失效的内外因分析

返回列表来源:新晨阳 发布日期: 2024.09.27 浏览:0

烧结裂纹烧结裂纹通常起源于一端电极,垂直扩展。主要原因与烧结时的冷却速度有关,裂纹和危害与空洞相似。机械应力裂纹多层陶瓷电容器具有承受较大压应力的特点,但抗弯性能较差。在设备组装过程中,任何可能引起弯曲变形的操作都可能导致设备开裂。这种裂纹通常源自设备、下部金属化端在45℃时延伸到器件内部。这种缺陷也是常见的缺陷。

关于陶瓷电容失效的内因外因分析-电容知识-新晨阳电子

烧结裂纹(Ignition crack)烧结裂纹通常从一端电极开始,垂直扩展。主要原因与烧结时的冷却速度有关,裂纹和危害与空洞相似。

层状(分层)多层陶瓷电容器的烧结为多层堆叠共烧,烧结温度可达1000℃烧结过程中,层间结合力不强,内部污染物挥发,烧结工艺不合理,容易发生分层、空洞、裂纹的损伤类似于空洞和裂纹,是多层陶瓷电容器的重要内部缺陷。

温度冲击裂纹主要是由焊接设备的温度冲击引起的,尤其是在波峰焊中,不合理的修复也是温度冲击裂纹产生的重要原因。

两个。机械应力裂纹(Flexible crack)多层陶瓷电容器具有承受较大压应力的特点,但抗弯性能较差。在设备组装过程中,任何可能引起弯曲变形的操作都可能导致设备开裂。常见的应力源有:贴片对齐、工艺电路板操作、人员、设备循环过程、重力等因素;通孔元件插入;电路测试、单板分割;电路板安装;电路板定位和铆接;螺杆安装等。这种裂纹通常源自设备、下部金属化端在45℃时延伸到器件内部。这种缺陷也是常见的缺陷。




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